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Correlation Between Optoelectronic and Structural Properties and Epilayer Thickness of AlN
(American Institute of Physics, 2007-06-11)
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AutorDahal, R. (1)Jiang, H.X. (1)
Li, J. (1)
Lin, J.Y. (1)
Nakarmi, M.L. (1)
Nepal, N. (1)
Paduano, Q.S. (1)
Pantha, B.N. (1)
Weyburne, David (1)Erscheinungsdatum
2007 (1)
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Yes (1)